最近跟业界一位同仁讨论了矢量的误差模型及校准过程,简单整理了一下,分享给大家,欢迎一起讨论。
的误差模型确实不太好理解,一般只有研发矢网或者专攻测试技术的人员才会深入探究。使用矢网测试之前,都是需要作系统误差校准的,目的就是将测试装置本身引入的误差项修正掉,得到DUT真实的S参数。
系统误差校准可分为单端口和双端口系统误差校准,前者主要用于测试单端口器件的反射系数及其衍生参数,后者主要测试双端口器件的全S参数及其衍生参数。
单端口系统误差校准包括OSM(open/short/match,有时称为OSL——open/short/load)和归一化校准。OSM校准属于全单端口校准,可以修正全面的单端口测试涉及的误差项,所以测试单端口器件时精度最高!反射归一化校准,速度很快,但是只使用Open或者Short单个校准件,只能求解反射跟踪一个误差项,所以精度有限。
反射测试的基本过程:激励源Source提供信号a1,经耦合器后大部分经矢网端口输出至DUT;经DUT反射的信号经过耦合器的耦合路径到达测量接收机Meas. Receiver. 由于矢网端口也存在反射,假设反射系数为S,那么在端口与DUT端口之间会存在多次反射,多次反射的量同样也会经过耦合路径进入Meas. Receiver. 此外,由于耦合器并不是理想的,所以其隔离度也是有限的,这导致激励信号a1的一部分会经过耦合器的隔离通道直接馈入Meas.Receiver。

也就是说,Meas. Receiver接收到的信号b3实际包含三部分:DUT直接反射的信号,测试参考面处的多次反射信号,以及经耦合器隔离通道直接泄露的信号。
在列举公式之前,再简单介绍一下图中的标识参数:耦合器本身有4个端口,但是考虑到该模型中只涉及耦合器的部分参数,所以此处将其等效为3端口器件,端口分别为port1、port2、和port3. S21是指耦合器的直通传输系数,S31是指泄露通道的传输系数,S32是指耦合通道的传输系数。