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最常用的对RF元器件的特性进行测量的仪器是矢量网络分析仪(VNA),这里所说的“网络”指的是电子电路概念上的网络,而不是计算机网络。传统上,VNA使用一个作为激励的RF信号源,并采用多路测量接收机来测量正反两个方向上的入射、反射和传输信号。
矢量网络分析仪可以利用固定功率的扫频方式来测量S参数;也可以用固定频率的功率扫描方式来测量放大器的增益压缩。通过这种方式,来量化元器件的线性性能和一些简单的非线性性能。现在,新型VNA的内部设置有两个内置RF信号源,可以对IMD进行测量,而以前这主要通过两个外接的信号源和一个频谱分析仪来完成。基于VNA的测试方法使得在测试过程中对仪表的设置更加简单、测量时间更短、准确性更高。
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